日本SANKO三高SWT系列膜厚仪两用型探针FN-325
产品型号：FN-325
产品品牌：日本三高SANKO
产品简介：
日本SANKO三高SWT系列膜厚仪两用型探针FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚仪探针FE-2.5
由于探头兼容性，可以与主体自由组合连接。
根据测量对象连接铁基（电磁型）或有色金属基（涡流型）。
可以根据应用和测量范围选择探针，例如适用于小块的测量的高稳定性探针等。
日本SANKO三高SWT系列膜厚仪两用型探针FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚仪两用型探针FN-325
日本SANKO三高SWT系列膜厚仪探针FE-2.5
SWT系列的英国SANKO三高人群检测器食品介绍一下：是因为传感器兼容性设置，行与主优质组合名字进行连接。会按照测试对方链接铁基（电滋型）或稀有黑色金属黑色金属基（涡旋型）。能够 利用利用和校正区间选取检测器，举例说明采应用在一小块的校正的高稳定的性检测器等。| 模型Fe - 2.5 * / Fe - 2.5 L.铁 - 2.5 LwA铁 - 0.6笔FE-10FE-20测量方法电磁感应式测量范围0至2.50毫米0至600微米0至10毫米0至20毫米显示分辨率1μm：0至999μm通过切换0.1μm：0至400μm0.5μm：400至500μm0.01mm ：1.00至2.50 mm1μm：0至600μm通过切换0.1μm：0至400μm，0.5μm：401至500μm1μm：0至999μm0.01mm ：1至10 mm1μm：0至999μm0.01mm ：1至5 mm 0.1 mm：5至20 mm测量精度（平滑面为）0至100μm：±1μm 或±2％的指示值101μm至2.50 mm：±2％以内0至100μm：±1μm 或在指示值101μm至600μm的±2％范围内：在指示值的±2％范围内0至3 mm：±（5μm+指示值的3％）3.01 mm或更大：±3％以内探测器1点恒压接触型，V切割 2.5：φ15x 47 mm 2.5 L：18 x 22 x 58 mm1点恒压接触式测量部分：约24×27×56 mm总长度约550至1,540 mm（伸缩式）1点恒压接触式，V切口φ5.6×92.2 mm1点恒压接触式，V切口φ20.4×47.1 mm1点恒压接触型，V切口φ35x 55 mm选项* 2V型探头适配器/ - -- -- -- -- -附件用于标准厚板测试的零板（用于铁）用于标准厚板测试（用于铁）存储盒的零板用于标准厚板测试的零板（用于铁）测量目标在铁·钢等磁性金属基底上涂覆，衬里，喷涂，电镀（不包括电解镀镍）等。在磁性金属底座上涂漆，如铁·钢，衬里等。无法到达的地方，用于测量偏远地区的涂层厚度涂在磁性金属基底上，如铁·钢，衬里等狭窄的地方，小部分用于测量涂层厚度对于相对较厚的测量用于重量测量 |
| ※温度探头耐低温（约200℃）。请详尽咨询了解。 * 2应用设置：V型感应器自适应器（3的种类型：φ5或更小，φ5到10，φ10到20） |
■传感器（另售）电磁感应配料 |
| 模型NFe - 2.0 * / NFe - 2.0 L.NFE-0.6NFE-5NFE-8测量方法涡流公式测量范围0至2.00毫米0至0.6毫米0至5毫米0至8毫米显示分辨率1μm：0至999μm通过切换0.1μm：0至400μm0.5μm：400至500μm0.01mm ：1.00至2.00 mm1μm：0至600μm通过切换0.1μm：0至400μm0.5μm：400至500μm1μm：0至999μm0.01mm ：1至5 mm1μm：0至999μm0.01mm ：1至8 mm测量精度（垂直于光滑表面测量）0至100μm：±1μm 或指示值的±2％101μm至2.00 mm：±2％以内0至100μm：±1μm 或±2％的指示值101μm至600μm：±2％以内0至3 mm：±（5μm+指示值的3％）3.01 mm或更大：在指示值的±3％范围内探测器1点恒压接触型，V切割 2.0：φ15x 47 mm 2.0 L：18 x 22 x 57 mm1点恒压接触式，V切割φ13×45.5 mm1点恒压接触式，V切口φ20.4×47.7 mm1点恒压接触型，V切口φ35x 59 mm选项* 2V型探头适配器/ - -- -- -- -附件用于标准厚板测试的零板（用于有色金属）测量目标绝缘涂层在非磁性金属基底上，如铝，铜等。用于相对通用的测量对象适用于薄圆棒，细管，小件等的高稳定性对于相对较厚的测量 |
| ※探测器耐低温（约200℃）。请详情提问。 * 2选项：V型探头适配器（3种类型：φ5或更小，φ5到10，φ10到20） |
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