半导电性粉体电阻率测试系统代替三菱化学MCP-PD51
半导电性粉体设备热敏电阻率测量控制系统代用三菱数控系统电学MCP-PD51
品名称: | 粉体阻抗测定系统 MCP-PD51 |
特色: | ﹢用于研究开发、质量管理线,执行粉体之物性管理 ﹢与阻抗率计Loresta-GP,Hiresta-UP连接,以测定广范围之粉体之低阻抗、高阻抗 ﹢样品的交换、清扫简单、可采一触式着离探头 ﹢各种粉体的形状,粒径分布之不同依压力依存性把握其阻抗率及压缩容积 ﹢测定及数据、备有达执行图形化之软件以供选购 |
测定对象: | 金属粉、碳粉类、陶磁粉…等导电性粉体 |
阻性粉状用料产品开发及的质量调整
一、 eLiPMS-2000plus 颗粒电阻值率测试测试系統连接的车间环境:
1) 整体局部: 约 W340*D270*H630mm(只含比如绘制打包手柄及 MCP-T700 局部尺寸);
2) 安裝地方: 需低于 W1500*D700mm 的橱柜柜门(了解台式机及运营的地方);
3) 事业台牵引带: 想牵引带多于 70kg 事业台;
4) 主机电源开关:220V/50Hz/500VA,的标准使用地线。需超出 3 个主机电源开关插座开关孔位。
二、 eLiPMS-2000plus 金属粉末电阻器率测试图片设计组成部分、工作、功能表: 1、的产品专题报告及特别:
1) 內置的高精密制造四摄像头摄像头模腔控件及高精密制造荷重测力感知器单元式,给予重压 30KN,约 95MPa; 在压力范围内可设置任意压力点进行测试分析。一键启动,自动进行加压、测试、释放。
2) 简易操作软件界面,可设置不同压力点及保压时间(保压时间到再测试),自动测量压实下粉 末之电阻、电阻率、电导率、厚度、压强、颗粒压实密度特性等参数。
3) 系统通过与三菱化学 LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探针仪连接,可测试宽范围之粉体阻 抗特征。 功率电阻各种测试依据:0.001*10-4~9.999*107 Ω; 内阻率=Ω*RCF*t(RCF 为更正因素,t 为机的薄厚基层单位 cm)
4) 的探针单元,高精度四探针测试原理,消除样品与探头及引线所引起的误差。 也能够 的裁剪方法φ20mm 的极性探针片样本来测量电池箱极片在不同于阻力下的电阻功率变迁; 还是简单用到 MCP-T700 还有低配摄像头或选择装配摄像头来测试测试片材,所说常作用。
2、选用位置: 阻性粉末材料研发及品质控制。
3、测试测试方面: 碳 粉--- 充电电池的电极材料、电子材料(电容器,电阻等)、活性炭、焦、石墨、碳黑色、
碳纤维纳米碳等。 金属粉末--- 电池的电极材料、薄膜材料(铜粉末、ITO 粉末等等)、导电膏、
导电油漆和涂料、绿 色接触材料等。 其它粉末--- 墨粉和相关的粉体/磁性材料如铁素体、汽车配件等材料。