日本sanko三高进口SL-200E电磁模拟膜厚仪

日本sanko三高进口SL-200E电磁模拟膜厚仪

探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度。探头尺寸小，适合测量平面、曲面、圆棒、零件、复杂形状、内表面等局部涂层厚度

规格为

检测标准

I：0～50μm II：0～500μm

侧量表面粗糙度

均衡外表面上展现值的 ±1 μm 或 ±2%

电源模块

DC：AA 电池充电 (1.5V) x 8
AC：100V，50/60Hz（在使用交流沟通替换器）

任务室内温度

0 至 40°C（无冷凝器）机身尺寸190(宽)×90(高)×120(深)毫米重量1.8公斤配件标准厚度板、AC适配器、肩包探测2极型，磁极直径φ2.5，极距5mm尺寸：10(W)×17(H)×21(D)mm