日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES
产品型号：H0110-S4B
产品品牌：SSD离子风机
产品简介：
静电衰减测量仪适用于检查材料的静电扩散率，通过用电晕放电产生的空气离子照射样品使样品带电，然后在停止照射空气离子后检查电荷的衰减曲线。 。全新升级为H0110-S4B。
该设备符合JIS L1094-1980半衰期测量仪的要求，即测试纺织品和针织物静电性能的方法。（如果需要用20mm的探头高度进行校准，请在购买时注明。）
作为使样品带电的方法，使用通过电晕放电产生的空气离子的照射，通过选择电晕放电的极性和施加电压，可以使样品带正电或负电。
可以测量所有片状样品，例如薄膜、板材、线、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，请联系我们。
Honest 可以进行演示测量。请与我们联系以获取更多信息。
诚实数据分析系统已升级至V3。H0110-S4B 还支持 Honest。
为了将V3连接到H0110-S4A，需要对主机进行修改。对于其他旧型号，可能无法修改连接，请联系我们。
从H0110-S4开始，校准时的标准探头高度为15毫米，符合JIS。如需20mm校准，请在订购时注明。
购买时注明AC100V 50Hz/60Hz。
日本SSD进口H0110-S4B测量仪器MEASURES
欧美SSD进口的H0110-S4B检测仪器设备MEASURES
电磁干扰反应衰减测定仪适宜于体检材料的电磁干扰反应分散率，在使用电晕充放生成的新鲜冷空气正阴离子光照产品的检样使产品的检样通电的，接下来在止住光照新鲜冷空气正阴离子后体检电荷量的衰减弧线。 。新一代 升到为H0110-S4B。
该产品复合JIS L1094-1980半衰期校正仪的符合要求，即自测纺织类品和针纺物靜電效果的方案。（如所需用20mm的摄像头特别通过自校，请在选购时盖章。）
做为使检样导电连接的的办法，用是可以凭借电晕释放制造的水汽亚铁离子的直接照射，是可以凭借选取电晕释放的旋光性和增加交流电压，是可以使检样带正电或负电。
能够 在测量几乎所有颗粒状试样，举例说明胶片、墙板、线、料子、地垫和的玻璃。但重、料厚、尺寸规格有限制制，请结合我们公司。
Honest 可不可以展开演绎量测。请与自己去联系以调用更多的讯息。
诚实资料阐述软件系统已升級至V3。H0110-S4B 还帮助 Honest。
成了将V3通过连到到H0110-S4A，需要对机箱通过更该。相对一些旧款型，应该无发更该通过连到，请搞好关系我。
从H0110-S4開始，效正时的标准化传感器特别为15分米，符合标准JIS。如需20mm效正，请在预订时附上。
选择时标出AC100V 50Hz/60Hz。
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